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校正
正常化(儀器歸零):按下 “校正" 按鈕,按 OK 鍵進(jìn)入,按屏幕提示用未鍍過(guò)的底材(形狀和材質(zhì)需和被測(cè)量工件一致)測(cè)量 3 - 5 次,按 OK 鍵確認(rèn),屏幕顯示 “正常完成成功" 后,再次按 OK 鍵完成。
校正:按屏幕提示測(cè)量底材 3 - 5 次,不建議按 “跳過(guò)" 鍵,按 OK 鍵確認(rèn)。把標(biāo)準(zhǔn)片放在基材上,測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片 3 - 5 次,按 “設(shè)置" 鍵,用↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標(biāo)準(zhǔn)片相同,按 “OK" 鍵確定。若有第二片標(biāo)準(zhǔn)片,校正步驟同第一片,按 “OK" 確認(rèn)(儀器只附帶一片標(biāo)準(zhǔn)片,第二片時(shí)可直接跳過(guò);如有多塊標(biāo)準(zhǔn)片,按從薄到厚的順序校正)。
簡(jiǎn)易校準(zhǔn):在基材上測(cè)量 200um 以上的標(biāo)準(zhǔn)片 3 - 5 次左右,并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值,按 “OK" 鍵完成(此功能只適合 200um 以上的涂鍍層)。
測(cè)量
儀器開啟后,將儀器放在要測(cè)量的工件上,等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。
測(cè)量聲響后顯示讀數(shù),把儀器提離工件。注意兩次測(cè)量間隔不少于 2 秒鐘,在測(cè)量前后,儀器應(yīng)與樣品保持一定距離,提起的最小距離為 5mm,且探頭觸點(diǎn)必須和被測(cè)面垂直。若太早提起儀器(未有聲響前),錯(cuò)誤信息 “Er6" 會(huì)出現(xiàn),需重復(fù)步驟 1。
統(tǒng)計(jì):按下 “統(tǒng)計(jì)" 按鈕,進(jìn)入統(tǒng)計(jì)評(píng)估界面。按 “OK" 進(jìn)入統(tǒng)計(jì),可看到當(dāng)前測(cè)量 N 個(gè)數(shù)據(jù)后的具體統(tǒng)計(jì)值(最大值、最小值、平均值等);選擇 “單個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)" 可看到測(cè)試 N 次后的每個(gè)數(shù)值。
刪除:按下 “刪除" 按鈕,進(jìn)入刪除界面,有 “刪除最后讀數(shù)" 和 “刪除全部數(shù)據(jù)" 選項(xiàng),可按↑↓鍵選擇。
設(shè)置:按下 “藍(lán)單" 按鈕,進(jìn)入設(shè)置界面。
顯示統(tǒng)計(jì)值:可選擇 “顯示 S"(測(cè)量界面屏幕下方顯示平均值及標(biāo)準(zhǔn)偏差 S)、“顯示 N"(測(cè)量界面屏幕下方顯示平均值及測(cè)試次數(shù) N)、“無(wú)"(測(cè)量界面屏幕下方不顯示任何數(shù)據(jù))。
設(shè)置 settings:可對(duì) “儲(chǔ)存讀數(shù)"(打勾為儲(chǔ)存數(shù)據(jù),否則不儲(chǔ)存)、“連續(xù)顯示模式"(打勾為進(jìn)入連續(xù)測(cè)量模式)、“兩用"(設(shè)置磁感應(yīng)、電渦流及兩用模式)、“聲音信號(hào)"(測(cè)量時(shí)將會(huì)有響聲)、“顯示精度"(低、中、高選擇)、“單位"(公制、英制選擇)、“n 秒后"(設(shè)置儀器屏幕亮、暗)、“對(duì)比"(設(shè)置儀器對(duì)比度)、“語(yǔ)言"(設(shè)置使用語(yǔ)言)、“自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)間"(1 分鐘和 5 分鐘兩檔選擇)等進(jìn)行設(shè)置。
張經(jīng)理
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